OCT光譜儀成像需要使用更長(zhǎng)的波長(zhǎng)才能在單次掃描中探測(cè)到大于幾毫米的深度，但這帶來了與NIR探測(cè)器相關(guān)的高成本問題。為此，Wasatch Photonics 開發(fā)了一種創(chuàng)新的光譜儀設(shè)計(jì)，使我們能夠使用800 nm OCT實(shí)現(xiàn)高達(dá)12 mm的成像深度，這為在更寬的深度范圍內(nèi)進(jìn)行經(jīng)濟(jì)高效的特征測(cè)量開辟了新的可能性。受益于這種遠(yuǎn)程成像的應(yīng)用領(lǐng)域包括眼科、醫(yī)學(xué)，以及增材打印和激光加工的無損過程監(jiān)測(cè)。

用于寬場(chǎng)顯微鏡的高速熒光壽命成像能快速的細(xì)胞過程、移動(dòng)的粒子和快速的圖像采集歷來是使用單光子計(jì)數(shù)技術(shù)進(jìn)行壽命成像的挑戰(zhàn)。寬場(chǎng) FLIM 套件通過在寬場(chǎng)照明裝置中實(shí)現(xiàn)視頻速率壽命成像，解決了這些限制。該套裝將Pi Imaging的高分辨率SPAD512² 相機(jī)與PicoQuant的多功能脈沖激光器組合以及通過NovaLITE軟件進(jìn)行的GPU 加速FLIM分析結(jié)合在一起。

-使用 Luminosa、MicroTime 200 和 LSM 升級(jí)套件進(jìn)行成像分析 -基于GPU加速算法快速分析 FLIM、FLIM-FRET 和各向異性數(shù)據(jù) -對(duì)z-stacks、延時(shí)序列和拼接圖像進(jìn)行高效批量分析 -先進(jìn)、靈活的ROI處理 熒光壽命成像分析軟件NovaFLIM

快速掃描VIS-NIR-SWIR-MIR光譜儀是一款緊湊型、快速掃描的光譜儀。它采用基于時(shí)域傅立葉變換檢測(cè)的技術(shù)，可以極其精確地監(jiān)測(cè)光源的發(fā)射光譜，并測(cè)量吸收、透射或反射光譜。

緊湊型正置寬場(chǎng)光致發(fā)光顯微鏡在許多情況下，要對(duì)半導(dǎo)體或太陽能電池等材料進(jìn)行表征，需要以空間分辨率測(cè)量它們?cè)诟鱾€(gè)點(diǎn)的光物理特性。根據(jù)樣品的不同，除了在不同點(diǎn)進(jìn)行測(cè)量外，在大面積樣品區(qū)域進(jìn)行掃描通常也很有意義。FluoMic 提供了一種快速、簡(jiǎn)便、可靠的方法來測(cè)量穩(wěn)態(tài)（從紫外到近紅外）和時(shí)間分辨（從 ps 到 ms）發(fā)光，空間分辨率低至2 μm。