[自研]光纖微裂紋檢測(cè)儀測(cè)量長(zhǎng)度升級(jí)至1m是什么概念？

光纖微裂紋檢測(cè)儀以白光干涉為原理，最初受限于延時(shí)纖的測(cè)量長(zhǎng)度只能測(cè)試6cm，使得測(cè)試場(chǎng)景非常局限。經(jīng)過(guò)3年多的技術(shù)鉆研，在剛剛過(guò)去的2022年里，東隆科技研發(fā)工程師們攻克了這個(gè)難關(guān)，在光纖測(cè)量長(zhǎng)度上實(shí)現(xiàn)了二連跳，1月測(cè)量長(zhǎng)度從最初的6cm升級(jí)至12cm，10月測(cè)量長(zhǎng)度從12cm升級(jí)至40cm。到了2023年年初，光纖微裂紋檢測(cè)儀測(cè)量長(zhǎng)度直接升級(jí)至1m，快速實(shí)現(xiàn)三級(jí)跳。然而我們每一次的系統(tǒng)技術(shù)優(yōu)化升級(jí)，都是為用戶提供更好的產(chǎn)品和服務(wù)體驗(yàn)。

本次，光纖微裂紋檢測(cè)儀測(cè)量長(zhǎng)度升級(jí)到1m,不僅為用戶解決匹配跳線、測(cè)試繁瑣等問(wèn)題。而且還能更大限度的包容待測(cè)樣品，并為測(cè)試器件留有更大空間，讓用戶使用起來(lái)更便捷。此外，在設(shè)備測(cè)試性能和穩(wěn)定性也有了質(zhì)的飛躍，在升級(jí)長(zhǎng)度過(guò)程中，會(huì)不斷迭代已有的光路和模塊，進(jìn)行長(zhǎng)時(shí)間的實(shí)驗(yàn)驗(yàn)證，以優(yōu)化的結(jié)構(gòu)，提升設(shè)備測(cè)試效果為目的。

下圖為光纖微裂紋檢測(cè)儀測(cè)量保偏光鏈路，該器件長(zhǎng)0.955m,末端是保偏光纖，OLI能測(cè)試出由保偏光纖雙折射引起的2個(gè)不同時(shí)延峰值。OLI以1μm的采樣分辨率能清晰判別出鏈路中光模塊的好壞以及光纖裂紋檢測(cè)。