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光纖微裂紋檢測(cè)儀以白光干涉為原理，最初受限于延時(shí)纖的測(cè)量長(zhǎng)度只能測(cè)試6cm，使得測(cè)試場(chǎng)景非常局限。經(jīng)過(guò)3年多的技術(shù)鉆研，在剛剛過(guò)去的2022年里，東隆科技研發(fā)工程師們攻克了這個(gè)難關(guān)，在光纖測(cè)量長(zhǎng)度上實(shí)現(xiàn)了二連跳，1月測(cè)量長(zhǎng)度從最初的6cm升級(jí)至12cm，10月測(cè)量長(zhǎng)度從12cm升級(jí)至40cm。到了2023年年初，光纖微裂紋檢測(cè)儀測(cè)量長(zhǎng)度直接升級(jí)至1m，快速實(shí)現(xiàn)三級(jí)跳。然而我們每一次的系統(tǒng)技術(shù)優(yōu)化升級(jí)，都是為用戶提供更好的產(chǎn)品和服務(wù)體驗(yàn)。
本次，光纖微裂紋檢測(cè)儀測(cè)量長(zhǎng)度升級(jí)到1m,不僅為用戶解決匹配跳線、測(cè)試繁瑣等問(wèn)題。而且還能更大限度的包容待測(cè)樣品，并為測(cè)試器件留有更大空間，讓用戶使用起來(lái)更便捷。此外，在設(shè)備測(cè)試性能和穩(wěn)定性也有了質(zhì)的飛躍，在升級(jí)長(zhǎng)度過(guò)程中，會(huì)不斷迭代已有的光路和模塊，進(jìn)行長(zhǎng)時(shí)間的實(shí)驗(yàn)驗(yàn)證，以優(yōu)化的結(jié)構(gòu)，提升設(shè)備測(cè)試效果為目的。
下圖為光纖微裂紋檢測(cè)儀測(cè)量保偏光鏈路，該器件長(zhǎng)0.955m,末端是保偏光纖，OLI能測(cè)試出由保偏光纖雙折射引起的2個(gè)不同時(shí)延峰值。OLI以1μm的采樣分辨率能清晰判別出鏈路中光模塊的好壞以及光纖裂紋檢測(cè)。
保偏光鏈路測(cè)試圖
東隆科技推出的光纖微裂紋檢測(cè)儀叫做低成本光學(xué)鏈路診斷系統(tǒng)（OLI），該系統(tǒng)通過(guò)讀取最終干涉曲線的峰值大小，精確測(cè)量整個(gè)掃描范圍內(nèi)的回波損耗， 進(jìn)而判斷此測(cè)量范圍內(nèi)鏈路的性能，其事件點(diǎn)定位精度高達(dá)幾十微米，最小可探測(cè)到-80dB光學(xué)弱信號(hào)， 廣泛用于光纖或光器件損傷檢測(cè)以及產(chǎn)品批量出貨合格判定。
低成本光學(xué)鏈路診斷系統(tǒng)（OLI）
產(chǎn)品特點(diǎn)
? 1μm采樣分辨率
? -80dB動(dòng)態(tài)范圍
? 1m測(cè)量長(zhǎng)度
產(chǎn)品應(yīng)用
? 光纖微裂紋檢測(cè)
? 硅光芯片、PLC波導(dǎo)瑕疵損耗檢測(cè)
? FA光纖陣列鏈路性能檢測(cè)
? 光器件、光模塊內(nèi)部耦合點(diǎn)、連接點(diǎn)性能檢測(cè)
