分布式偏振串?dāng)_測(cè)試儀OLI-P是基于白光干涉的，采樣分辨率優(yōu) 于2cm ， 噪聲靈敏度可達(dá)-90dB。設(shè)備可高精度測(cè)量保偏光纖環(huán)、Y波 導(dǎo)芯片等器件的分布式偏振串?dāng)_。通過(guò)偏振串?dāng)_測(cè)試 ，精準(zhǔn)定位保偏光路 中異常串?dāng)_點(diǎn)位置、分析連接頭或耦合端面質(zhì)量、測(cè)量保偏器件芯片的偏振消光比等。該產(chǎn)品可用于產(chǎn)品工藝設(shè)計(jì)改進(jìn)或產(chǎn)線批量檢測(cè)。

光纖微裂紋檢測(cè)儀OLI是一款低成本高精度光學(xué)鏈路診斷系統(tǒng)。其原理基于光學(xué)相干檢測(cè)技術(shù)，利用白光的低相干性可實(shí)現(xiàn)光纖鏈路或光學(xué)器件的微損傷檢測(cè)。通過(guò)讀取最終干涉曲線的峰值大小，精確測(cè)量整個(gè)掃描范圍內(nèi)的回波損耗，進(jìn)而判斷此測(cè)量范圍內(nèi)鏈路的性能。