分布式偏振串擾測試儀

產(chǎn)品型號： OLI-P

所屬分類：光纖微裂紋檢測儀

更新時間：2025-07-04

簡要描述：分布式偏振串擾測試儀OLI-P是基于白光干涉的，采樣分辨率優(yōu) 于2cm ，噪聲靈敏度可達-90dB。設備可高精度測量保偏光纖環(huán)、Y波導芯片等器件的分布式偏振串擾。通過偏振串擾測試，精準定位保偏光路中異常串擾點位置、分析連接頭或耦合端面質量、測量保偏器件芯片的偏振消光比等。該產(chǎn)品可用于產(chǎn)品工藝設計改進或產(chǎn)線批量檢測。

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詳細說明：

OLI-P分布式偏振串擾測試儀OLI-P是基于白光干涉的，采樣分辨率優(yōu) 于2cm ，噪聲靈敏度可達-90dB。設備可高精度測量保偏光纖環(huán)、Y波導芯片等器件的分布式偏振串擾。通過偏振串擾測試，精準定位保偏光路中異常串擾點位置、分析連接頭或耦合端面質量、測量保偏器件芯片的偏振消光比等。該產(chǎn)品可用于產(chǎn)品工藝設計改進或產(chǎn)線批量檢測。

分布式偏振串擾測試儀OLI-P產(chǎn)品特點：

分布式測量保偏器件串擾
高采樣分辨率和定位精度
靈敏度高、測量動態(tài)范圍大
測量時間短

OLI-P分布式偏振串擾測試儀OLI-P主要應用：

1.保偏光纖環(huán)的分布式串擾測量

對保偏光纖環(huán)進行全長度的分布式串擾測量，精準定位環(huán)內異常串擾點，評估光纖環(huán)的整體偏振性能，為光纖環(huán)的生產(chǎn)工藝優(yōu)化、質量控制以及故障排查提供有力支持，確保光纖環(huán)在實際應用中的穩(wěn)定性和可靠性。

分布式偏振串擾測試儀

2.波導芯片的消光比及雙折射測量

精確測量 Y 波導芯片等波導器件的偏振消光比和雙折射特性，分析波導結構對偏振光的調控能力，為波導芯片的設計改進、性能提升以及質量檢測提供關鍵數(shù)據(jù) ，推動光電子器件技術的發(fā)展與創(chuàng)新。

分布式偏振串擾測試儀

分布式偏振串擾測試儀OLI-P參數(shù)：

主要參數(shù)
基礎參數(shù)
工作波長	1290 ~ 1330 /1530~1570	nm
測量長度1	>1.4	km
采樣分辨率2	＜2	cm
串擾重復性	±1	dB
事件點分辨率	20	cm
測量時間3	＜15	s
串擾測量動態(tài)范圍	75	dB
噪聲靈敏度?	-90	dB
硬件
輸入電壓	AC 220/110V；DC 12V	-
主機功率	60	W
通訊接口	USB	-
光纖接口	FC/APC	-
尺寸	W 345 * D 390 * H 165	mm
重量	7.5	kg
儲存溫度	0 ~ 50	℃
工作溫度	0 ~ 40	℃
儲存與工作濕度	10 ~ 70	%RH

備注：

1. 光纖線性雙折射按Δn=5×10-4計

2. 光纖線性雙折射按Δn=5×10-4 ，設備可設置的最大采樣分辨率

3. 設備滿量程測量時，測量時間小于14s

4. -90dB指最大串擾峰低于-70dB時噪聲水平（底噪平均值）

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